[发明专利]一种基于散斑结构光的环形高精度测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010972334.0 申请日: 2020-09-16
公开(公告)号: CN112082506B 公开(公告)日: 2023-02-28
发明(设计)人: 郭彦彬;王国平;刘迎宾;叶韶华 申请(专利权)人: 华中科技大学鄂州工业技术研究院;华中科技大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G06T7/80;G06T17/00
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 代理人: 张晓冬
地址: 436044 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于散斑结构光的环形高精度测量装置及方法,装置包括:支撑结构;环形导轨,所述环形导轨连接于所述支撑结构一端;悬臂,所述悬臂转动连接于所述环形导轨下端;深度相机模块组件,所述深度相机模块组件竖直连接于所述悬臂上;伺服系统,所述伺服系统布置于所述环形导轨上方,并且固定于所述支撑结构上,所述伺服系统输出端与所述悬臂连接。本发明能够在水平方向进行环形扫描,竖直方向进行直线扫描,可实现在短时间内对目标物体进行纹理重建和外形重建,提高重建模型外部纹理特征的真实性和完整性,拓展适用场景。
搜索关键词: 一种 基于 结构 环形 高精度 测量 装置 方法
【主权项】:
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