[发明专利]一种T/R阵列自动测试系统校准套件、测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202010974119.4 | 申请日： | 2020-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN111896925A | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 韩周安;彭安虎;彭毅 | 申请（专利权）人： | 成都爱科特科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人： | 袁英 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种T/R阵列自动测试系统校准套件、测试系统及测试方法，所述T/R自动测试系统校准套件包含套件箱体以及设置于箱体内的一个和/或多个校准模块，所述校准模块包括设置于印制板的直通标准件T、延迟线标准件L、第一反射标准件R、第二反射标准件R’以及设置于套件箱体上连接每个标准件两端的射频接头，通过T/R测试系统连接每个标准件两端的射频接头对标准模块进行测试。本发明可很大程度的提升T/R阵列自动测试系统的校准精度和校准效率，可满足在大规模T/R阵列自动测试系统中的校准要求。此外，区别于目前矢量网络分析仪厂商提供的高精密校准工具箱，对加工工艺有极大要求，本发明所需标准件的加工工艺能满足一般的工程化实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 自动 测试 系统 校准 套件 方法 | ||
【主权项】：
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