[发明专利]篡改检测装置、系统和方法在审
申请号: | 202010991833.4 | 申请日: | 2020-09-18 |
公开(公告)号: | CN112649024A | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 托马斯·苏瓦尔德;斯特凡·梅尔 | 申请(专利权)人: | 恩智浦有限公司 |
主分类号: | G01D5/241 | 分类号: | G01D5/241 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张霞 |
地址: | 荷兰埃因霍温高科*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 描述了一种用于检测在包装方面的篡改的篡改检测装置,所述装置包括:i)包括第一经图案化结构的第一电极,以及ii)包括第二经图案化结构的第二电极。所述第一电极和所述第二电极被布置成使得所述第一经图案化结构和所述第二经图案化结构彼此至少部分地相对。在所述第一经图案化结构和所述第二经图案化结构相对于彼此的第一布置状态下,第一电容是可测量的,在所述第一经图案化结构和所述第二经图案化结构相对于彼此的第二布置状态下,第二电容是可测量的,其中所述第一电容不同于所述第二电容,并且其中所述第一布置状态不同于所述第二布置状态。所述装置另外包括:iii)检测单元。 | ||
搜索关键词: | 篡改 检测 装置 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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