[发明专利]一种绝对辐射与偏振联合的定标方法及装置有效
| 申请号： | 202010993142.8 | 申请日： | 2020-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN112284541B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 颜昌翔;邢文赫;鞠学平;泊建 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/447 | 分类号： | G01J3/447;G01J3/28;G01J4/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 代丽;郭德忠 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种绝对辐射与偏振联合的定标方法及装置，能够对通道色散型偏振光谱成像仪进行高精度的绝对辐射定标，提高对通道色散型偏振光谱成像仪的偏振探测精度并实现对不同视场偏振探测精度的统一。在绝对辐射定标过程中考虑了前置镜组偏振效应的影响，标定出了两个相位延迟器不可避免的方位角误差和不同视场的相位因子，消除了前置镜组偏振效应和方位角误差对仪器绝对辐射定标和探测结果的影响，可有效提高仪器的偏振探测精度并使不同视场偏振探测精度统一。在大视场通道色散型偏振光谱成像仪辐射定标中将发挥重要作用，具有广泛的工程应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 绝对 辐射 偏振 联合 定标 方法 装置 | ||
【主权项】：
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