[发明专利]一种光模块高低温测试装置和方法在审
| 申请号： | 202010993552.2 | 申请日： | 2020-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN112556987A | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 程国锦;李林科;吴天书;杨现文;张健 | 申请（专利权）人： | 武汉联特科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 代婵 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种光模块高低温测试装置，包括：TEC驱动器、测试盒和冷却箱；其中：TEC驱动器和测试盒连接，用于驱动测试盒内的TEC制冷器，实现按预设需求对测试盒进行加热和制冷功能；测试盒一端与TEC驱动器连接，另一端与冷却箱连接，用于接受TEC驱动器控制，产生光模块测试所需温度；还用于接受冷却箱进行散热处理；冷却箱通过出入水连接口与测试盒连接，用于对测试盒进行散热处理。本发明达到的温度范围大，电功耗低，不消耗压缩空气，无噪音，不会对生产环境释放大量热量。本发明中的测试盒体积小，可以随意移动，不单独占用生产场地。解决了现有设备存在体积庞大，电功耗大，耗气量大，噪音和散热都对生产环境产生直接影响的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模块 低温 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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