[发明专利]一种沟槽型MOSFET器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010996895.4 申请日: 2020-09-21
公开(公告)号: CN112259598A 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 倪炜江 申请(专利权)人: 倪炜江
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 北京邦创至诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11717 代理人: 张宇锋
地址: 100029 北京市朝阳*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及半导体技术领域,尤其是涉及一种沟槽型MOSFET器件及其制备方法,从下到上依次包括漏极、n+衬底、n+缓冲层、n‑漂移层、CSL层、p+埋层、p阱、p+区和n+区、栅介质、多晶硅栅、栅源隔离介质、源电极;器件的有源区有两类不同结构的原胞组成,其中一类原胞为MOSFET导电原胞A;另一类原胞为对沟槽栅结构进行电场屏蔽的原胞B,原胞B中p+埋层通过其上方的p+区与源极电联通;在平行于纸面方向,同一类原胞左右并联,在垂直于纸面的纵深方向,两类原胞交替排列,形成导电与屏蔽区域。本申请通过两类原胞的有序且一定方法的排列,最终既能实现对沟槽栅的屏蔽同时又能获得非常精细的原胞尺寸。且本申请的器件结构和制备工艺简单,利于推广应用。
搜索关键词: 一种 沟槽 mosfet 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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