[发明专利]一种用于二维平面位移测量的处理电路在审
| 申请号： | 202011005516.7 | 申请日： | 2020-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN112129231A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 于海;万秋华;赵长海;杜颖财 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G06T9/00 |
| 代理公司： | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人： | 李青 |
| 地址： | 130000 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种用于二维平面位移测量的处理电路涉及光电位移精密测量领域，图像数据接收模块通过图像数据接收连接器接收外部设备传输的图像像素数据，并把图像像素数据分别传输至编码识别模块和细分运算模块，编码识别模块对图像像素数据进行识别和译码，细分运算模块对图像像素数据进行二维的细分运算，数据综合模块接收编码识别模块和细分运算模块识别、译码和细分运算后的图像像素数据后，通过数据综合模块对数据进行融合，数据输出模块将融合后的数据通过数据输出连接器发送至接收设备。本发明通过与外部设备配合，能够准确的识别当前测量位置的二维编码信息，并基于亚像素级细分算法实现高分辨力的位移细分，进而实现高分辨力的二维位移量测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 二维 平面 位移 测量 处理 电路 | ||
【主权项】：
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