[发明专利]热分析设备、样本保持器组件和热分析方法在审

专利信息
申请号: 202011020732.9 申请日: 2020-09-25
公开(公告)号: CN112557234A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 伊东大辅;佐藤健太;高石洋树 申请(专利权)人: 耐驰-仪器制造有限公司
主分类号: G01N5/00 分类号: G01N5/00;G01N25/20;B01L7/00;B01L9/00
代理公司: 北京市路盛律师事务所 11326 代理人: 金钦华;李海
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及一种热分析设备、一种样本保持器组件和一种热分析方法,其能够进行DSC测量和TG测量,且简化了发生损坏时对温度传感器等的替换。根据本公开的热分析设备100包括:可拆卸地安装的样本保持器组件110;可拆卸地安装的第一样本台221和第二样本台222;加热样本保持器组件110等的加热器(加热炉20);温度控制器400;用于检测样本和参照物质之间的温度差的温度测量部分300;以及,用于测量样本和参照物质之间的重量差的重量测量部分(天平103)。样本保持器组件110包括:用于在其上放置样本的第一样本保持器121;和用于在其上放置参照物质的第二样本保持器122;以及,散热器123,其通过具有预定热阻的构件分别联接到第一样本保持器121和第二样本保持器122,以测量温度差或重量差。
搜索关键词: 分析 设备 样本 保持 组件 方法
【主权项】:
暂无信息
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