[发明专利]一种不规则状或微尺度晶体材料体膨胀系数的测试方法在审

专利信息
申请号: 202011032891.0 申请日: 2020-09-27
公开(公告)号: CN112326703A 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 何端鹏;高鸿;李岩;邢焰;于翔天;汪洋;王向轲;吴冰;刘泊天;张静静;陆平;孔静 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01N23/2055 分类号: G01N23/2055
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 张丽娜
地址: 100194 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于材料检测技术领域,尤其涉及一种不规则状或微尺度晶体材料体膨胀系数的测试方法。该方法通过采集材料在不同温度下的XRD衍射图谱,并通过计算各个物相晶格常数的膨胀系数,进一步计算获得材料的体膨胀系数αV。该方法能够实现不规则状及微尺度试样的体膨胀系数的测定,包括微构件、薄膜材料、元器件用引线及焊料等材料。具有对试样要求低、操作简单、表征高效的特点。该发明解决了不规则状及微尺度材料热膨胀系数不易检测的难题,具有较强的应用价值。
搜索关键词: 一种 不规则 尺度 晶体 材料 膨胀系数 测试 方法
【主权项】:
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