[发明专利]一种不规则状或微尺度晶体材料体膨胀系数的测试方法在审
申请号: | 202011032891.0 | 申请日: | 2020-09-27 |
公开(公告)号: | CN112326703A | 公开(公告)日: | 2021-02-05 |
发明(设计)人: | 何端鹏;高鸿;李岩;邢焰;于翔天;汪洋;王向轲;吴冰;刘泊天;张静静;陆平;孔静 | 申请(专利权)人: | 中国空间技术研究院 |
主分类号: | G01N23/2055 | 分类号: | G01N23/2055 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 张丽娜 |
地址: | 100194 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明属于材料检测技术领域,尤其涉及一种不规则状或微尺度晶体材料体膨胀系数的测试方法。该方法通过采集材料在不同温度下的XRD衍射图谱,并通过计算各个物相晶格常数的膨胀系数,进一步计算获得材料的体膨胀系数α |
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搜索关键词: | 一种 不规则 尺度 晶体 材料 膨胀系数 测试 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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