[发明专利]一种获取表面镀覆薄层厚度的方法有效
| 申请号： | 202011034523.X | 申请日： | 2020-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN112325825B | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 何端鹏;高鸿;于翔天;李岩;汪洋;秦怀德;刘泊天 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张丽娜 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于表面检测技术及表面处理工艺(表面工程)质量评价领域，尤其涉及一种获取表面镀覆薄层厚度的方法。本发明所述的一种表面镀覆薄层厚度检测方法涉及仪器设备简单，操作简便，成本低；能大幅度提高生产(检测)效率；有效地拓展了镀覆层厚度检测技术。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 获取 表面 镀覆 薄层 厚度 方法 | ||
【主权项】：
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