[发明专利]具有裸片上镜像功能的存储器芯片和用于测试其的方法在审
| 申请号： | 202011039061.0 | 申请日： | 2020-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN112700816A | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 金炳述;李豪璟;郑和晋;崔容周 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C11/408 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于测试存储器芯片的方法，包括：对存储器芯片执行裸片电特性拣选(EDS)测试；当EDS测试通过时，执行封装测试；当封装测试通过时，执行模块测试；当模块测试通过时，执行安装测试；以及当EDS测试、封装测试、模块测试或安装测试失败时，通过熔丝操作将存储器芯片设置为镜像模式。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 上镜 功能 存储器 芯片 用于 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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