[发明专利]带精密测量的可控升降装置以及包含其的光刻设备在审
申请号: | 202011040473.6 | 申请日: | 2020-09-28 |
公开(公告)号: | CN112051715A | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 成荣;朱煜;张鸣;杨开明;刘相波 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 董永辉;曹素云 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种带精密测量的可控升降装置及光刻设备,装置包括固定基座、导向座、移动组件、驱动组件,固定基座与导向座固定连接,固定基座上有轴线竖向的导向套,移动组件包括升降头、导向杆、磁钢,导向杆上端有安装孔,导向杆穿过导向套,导向杆与导向套以及固定基座、导向座之间形成气浮接触面;磁钢、升降头依次装入导向杆的安装孔,使升降头伸出导向套的上端部,驱动组件包括电机线圈和铁芯,铁芯设置在导向杆与导向套之间的环形空间内,电机线圈缠绕在铁芯上,移动组件中心有气孔,固定基座通过导向杆的气道向气孔提供正压或负压气体。本发明采用气浮接触面导向减少零部件之间的摩擦,避免颗粒产生,并提高运动精度,减少电机驱动力要求。 | ||
搜索关键词: | 精密 测量 可控 升降 装置 以及 包含 光刻 设备 | ||
【主权项】:
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