[发明专利]FPGA片内时钟占空比测试方法和时钟自测FPGA在审

专利信息
申请号: 202011061235.3 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112117995A 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 贾楫;丛伟林;何相龙;孙海;蔡莹卓 申请(专利权)人: 成都华微电子科技有限公司
主分类号: H03K5/19 分类号: H03K5/19
代理公司: 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 代理人: 刘勋
地址: 610000 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: FPGA片内时钟占空比测试方法和时钟自测FPGA,涉及集成电路技术。本发明的时钟自测FPGA,包括I/O接口单元、时钟管理电路单元、被测时钟网络,其特征在于,还包括一个D触发器,时钟管理电路单元的输入端连接时钟源,时钟管理电路单元的第一输出端与被测时钟网络的输入端连接,被测时钟网络的输出端连接到D触发器的D端,时钟管理电路单元的第二输出端与采样时钟网络的输入端连接,采样时钟网络的输出端连接到D触发器的CLK端,D触发器的输出端连接到输出逻辑检测功能电路,输出逻辑检测功能电路与I/O接口单元连接,一个动态相移逻辑功能控制模块与时钟管理电路单元连接。本发明降低了对测试仪器设备的指标要求。
搜索关键词: fpga 时钟 测试 方法 自测
【主权项】:
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