[发明专利]一种双频干涉成像高度计高精度基线估计方法有效

专利信息
申请号: 202011065491.X 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112305512B 公开(公告)日: 2023-07-28
发明(设计)人: 刘磊;张庆君;刘杰;陆翔;王爱明;李堃;刘红雨;边明明;肖遥;张云华;杨杰芳 申请(专利权)人: 北京空间飞行器总体设计部
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 徐晓艳
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种双频干涉成像高度计高精度基线估计方法,该方法基于星上实时测量基线长度和基线倾角值,作为基线估计初值,基于参考目标的高度信息和干涉成像高度计的观测几何,开展高精度联合估计基线;考虑到双频干涉成像高度计同时工作在Ka频段和Ku频段,在实现场景宽幅覆盖的同时,Ka和Ku频段还存在观测重叠区域,利用重叠区域海面高度值一定,进一步提升在轨基线估计精度。本发明既发挥Ka频段受到电离层影响小,又发挥Ku频段受对流层(云雨)影响小的优势,进一步提升基线长度估计精度达到亚毫米级,基线倾角精度达到亚角秒级。
搜索关键词: 一种 双频 干涉 成像 高度计 高精度 基线 估计 方法
【主权项】:
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