[发明专利]获取时序老化敏感性信息的方法和装置、电子设备、介质在审
| 申请号： | 202011070016.1 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN114330203A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 魏琦;武辰飞;黎嘉勇;欧阳可青 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/392 | 分类号： | G06F30/392 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 姜春咸;冯建基 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种获取时序老化敏感性信息的方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质，获取时序老化敏感性信息的方法包括：获取第一预设条件；根据数据库获取第一预设条件对应的不同类型的标准单元的第一时序老化敏感性信息；其中，第一时序老化敏感性信息包括：表征标准单元老化对标准单元所产生的影响的第一时延影响参数，以及表征标准单元老化对后级互连线和后级标准单元所产生的影响的第二时延影响参数。 | ||
| 搜索关键词： | 获取 时序 老化 敏感性 信息 方法 装置 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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