[发明专利]一种电容器高温老化系统用批量化测试治具在审
| 申请号： | 202011073979.7 | 申请日： | 2020-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN112363006A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 谢斌;刘浩项 | 申请（专利权）人： | 安徽晶谷周界微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R1/04 |
| 代理公司： | 合肥广源知识产权代理事务所(普通合伙) 34129 | 代理人： | 汪纲 |
| 地址： | 233000 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及电容器老化测试技术领域，具体涉及一种电容器高温老化系统用批量化测试治具，包括底板，底板的上端面安装有若干个呈阵列分布的电容器夹持区，电容器夹持区包括前移动座、后移动座、金属导轨和轴承座；底板的下端面固定有一对滑座，一对滑座之间正相对的侧壁均开设有阶梯槽，阶梯槽由两个大小不同的柱形槽组成，阶梯槽内部安装有复位弹簧和卡头；本发明便于电容器批量化上料和下料，极大提高了操作效率降低操作难度；也便于对电容器进行安装夹紧，操作简单，稳固可靠；治具的安装十分简便，使用也更加灵活。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电容器 高温 老化 系统 批量 测试 | ||
【主权项】：
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