[发明专利]一种半导体器件故障检测装置在审
| 申请号： | 202011086458.5 | 申请日： | 2020-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN112213608A | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 陶金 | 申请（专利权）人： | 陶金 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/52 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区航城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公布了一种半导体器件故障检测装置，包括底座，底座的顶部连接有壳体，壳体的顶部右侧嵌合安装有故障指示灯，壳体的内壁连接有绝缘层，壳体的内腔上部横向设有线芯，线芯的左右两端分别连接有电接头和工作指示灯，线芯的外部套设有保护套，保护套内安装有感应线圈，壳体的前侧壁下部嵌合安装有收纳盒，收纳盒前端开口设置，收纳盒的左右两侧壁均贯穿有活动管，两组活动管相靠近的一端对称连接有金属板，活动管内贯穿有导线；本发明结构设计合理，操作简单，降低了检测难度，提高了装置的适用性，易于掌握，提高了检测效率，延长了装置的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体器件 故障 检测 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陶金，未经陶金许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011086458.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
