[发明专利]光电耦合器高低温测试系统在审
| 申请号： | 202011090071.7 | 申请日： | 2020-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN112230121A | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 李冰;蒋城;龚磊;鲍江;张佳宁;王君;郝开伟 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
| 主分类号： | G01R31/27 | 分类号： | G01R31/27;G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙) 50221 | 代理人： | 李启林 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光电耦合器高低温测试系统，包括高低温测试板、高低温箱、控制单元和光电耦合器测试仪，所述高低温测试板包括译码电路、被测件单元和信号布线；每一被测件单元包括测试插座和固体继电器；各被测件单元的对应输出端通过信号布线并联后分别通过一条信号线缆与光电耦合器测试仪的测试端电连接。本发明中，能够在高低温测试板内实现待测光电耦合器的引脚切换，大大降低了引出高低温箱的线缆数量，显著缩短了测试时的线缆连接时间并提高了操作便利性，避免了接触不良、断路等问题，能长期稳定工作；另外，信号线缆采用交流传输能力良好的同轴电缆，对连接线进行阻抗匹配设计后，能够对光电耦合器的交流参数进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 耦合器 低温 测试 系统 | ||
【主权项】：
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