[发明专利]小漏率正压漏孔校准方法及装置在审

专利信息
申请号: 202011095026.0 申请日: 2020-10-14
公开(公告)号: CN112113707A 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 刘贝贝;许红;张忠立;王灿;张斯宏;金愿 申请(专利权)人: 上海市计量测试技术研究院
主分类号: G01M3/00 分类号: G01M3/00;G01M3/26
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 王一琦
地址: 200040 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种小漏率正压漏孔校准方法,设置一校准室和与校准室同等材质的参考室,二者由差压薄膜规和截止阀隔开;气体量Q﹒t正比于差压薄膜规读数P,可得出其中Q代表漏率,t代表时间,k=P0·x·A/(P2‑P1);在校准室设置一活塞,通过先测量推进活塞引起的压差,等效于漏孔流入的气体量,计算出体积系数k,其中:A为活塞截面积;x为活塞移动距离;P1、P2为活塞移动前后薄膜计示值;再测量由被检漏孔流入校准室引起的压力P随时间t的变化率,从而得出被检漏孔的漏率。
搜索关键词: 小漏率 正压 漏孔 校准 方法 装置
【主权项】:
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