[发明专利]一种利用WDXRF测定LaNix有效

专利信息
申请号: 202011102594.9 申请日: 2020-10-15
公开(公告)号: CN112304995B 公开(公告)日: 2023-07-28
发明(设计)人: 何伟波;张连平;赵建龙;王佳佳;余春荣;秦震;姚洪敏 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院材料研究所
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙) 51239 代理人: 赵健淳
地址: 621700 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种利用WDXRF测定LaNix合金中Ni/La原子比的方法,包括如下步骤:S1、配置多个Ni/La原子比在(x±0.4):1范围内的La‑Ni标准溶液,La‑Ni标准溶液浓度为20mg/mL,x的为LaNix合金中Ni的原子数;S2、取各个标准溶液制成标样,留待测试;S3、将标样用X射线荧光光谱仪进行测量,获得各标样LaLα(4.65keV)和NiKα(7.478keV)净峰强度,对各个标样的Ni/La原子比与其特征峰强度比进行线性拟合,得到工作曲线和拟合系数;S4、取LaNix合金样品置于溶样杯中,加入浓硝酸,加热使其完全溶解,加入柠檬酸加热浓缩定容;S5、取步骤S4的液体制成试样,留待测试;S6、测得试样中的NiKα(7.478keV)和LaLα(4.65keV)线的净峰强度,带入步骤S3中的工作曲线可得试样中Ni/La原子比。本发明相比其他化学分析方法简便、快速、分析精度高。
搜索关键词: 一种 利用 wdxrf 测定 lani base sub
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