[发明专利]用于测试电子部件的分选机在审
申请号: | 202011106276.X | 申请日: | 2017-09-08 |
公开(公告)号: | CN112595922A | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 罗闰成;卢锺基 | 申请(专利权)人: | 泰克元有限公司 |
主分类号: | G01R31/01 | 分类号: | G01R31/01;B07C5/34;B07C5/36 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 李盛泉;孙昌浩 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于测试电子部件的分选机。根据本发明的用于测试电子部件的分选机包括:移动腔室,可以收容堆载有电子部件的测试托盘,且沿着预定的移动路径移动。并且,移动腔室可以包括:第一腔室部分,用于调节堆载于测试托盘的电子部件的温度;第二腔室部分,用于使堆载于测试托盘的电子部件的温度恢复至常温。根据本发明,通过构成移动腔室而能够以单元形式配置多个测试窗口,因此可大幅缩小相对于处理容量的设置空间,并通过将一个腔室分为两个来另行设置其功能,可以最小化设置面积。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 电子 部件 分选 | ||
【主权项】:
暂无信息
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