[发明专利]用于测试电子部件的分选机在审

专利信息
申请号: 202011106276.X 申请日: 2017-09-08
公开(公告)号: CN112595922A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 罗闰成;卢锺基 申请(专利权)人: 泰克元有限公司
主分类号: G01R31/01 分类号: G01R31/01;B07C5/34;B07C5/36
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 李盛泉;孙昌浩
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于测试电子部件的分选机。根据本发明的用于测试电子部件的分选机包括:移动腔室,可以收容堆载有电子部件的测试托盘,且沿着预定的移动路径移动。并且,移动腔室可以包括:第一腔室部分,用于调节堆载于测试托盘的电子部件的温度;第二腔室部分,用于使堆载于测试托盘的电子部件的温度恢复至常温。根据本发明,通过构成移动腔室而能够以单元形式配置多个测试窗口,因此可大幅缩小相对于处理容量的设置空间,并通过将一个腔室分为两个来另行设置其功能,可以最小化设置面积。
搜索关键词: 用于 测试 电子 部件 分选
【主权项】:
暂无信息
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