[发明专利]通用可配置的芯片测试电路有效
| 申请号： | 202011108514.0 | 申请日： | 2020-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN112269123B | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 李鑫;曾永红;晋超超;徐艺轩 | 申请（专利权）人： | 天津津航计算技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183;G01R31/317 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 周恒 |
| 地址： | 300308 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明属于硬件设计技术领域，具体涉及一种通用可配置的芯片测试电路，包括：测试芯片插座、主控FPGA和多种通讯协议的外围接口电路；所述测试芯片插座作为被测芯片的载体，实现被测芯片与外围接口电路和被测芯片与主控FPGA之间的通讯；所述主控FPGA负责根据待测芯片的功能和类型产生不同的测试向量和通讯协议，对外围接口电路中与待测芯片对应的测试接口进行切换；所述多种通讯协议的外围接口电路中包括多种通讯协议的外围测试接口，用于实现不同待测芯片的测试物理通路。本发明有效解决了不同芯片测试需要重新进行测试板卡设计的问题，适合于具有相同封装的不同类型的芯片测试系统，可以有效的测试通讯类芯片的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 通用 配置 芯片 测试 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
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