[发明专利]一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法有效
| 申请号： | 202011109442.1 | 申请日： | 2020-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN112484855B | 公开（公告）日： | 2021-10-15 |
| 发明（设计）人： | 陈铁桥;李思远;李海巍;王爽;刘学斌;张耿;冯向朋;陈小来;刘强;刘佳;刘杰;王一豪 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/45;G01J3/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 赵逸宸 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种块效应校正方法，为解决现有探测器响应不一致的矫正方法，由于忽略了探测器块效应的动态变化，无法适用于大视场高分辨率干涉成像光谱仪图像非均一性校正的技术问题，提供一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法，包括通过干涉成像光谱仪分别在积分球不同亮度等级下连续采集光源数据，按照时间顺序按预设时间间隔对采集数据进行分割后求取平均值图像，按照干涉维取平均得到空间维块效应曲线，再进行多项式拟合得到消除块效应光滑曲线，通过比值法求取块效应校正系数，干涉成像光谱仪采集的数据与相应时间的块效应校正系数相除得到消除块效应干涉图。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 干涉 成像 光谱仪 探测器 效应 校正 方法 | ||
【主权项】：
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