[发明专利]一种高阻膜测试系统及其测试方法在审
| 申请号： | 202011109814.0 | 申请日： | 2020-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN112212921A | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 姜建峰 | 申请（专利权）人： | 赫得纳米科技（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 上海创开专利代理事务所(普通合伙) 31374 | 代理人： | 汪发成 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高阻膜测试系统及其测试方法，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置。本发明的有益之处在于：能够通过硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置分别对高阻膜的硬度、厚度、透光效果、电阻值及附着力进行测试，降低人力投入，提高测试效率；除此之外，通过上卸料装置对高阻膜进行统一上卸料，保证检测过程的连续性，降低漏检几率，提高检测的准确性，并且降低整体空间占用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高阻膜 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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