[发明专利]一种基于激光干涉法的斜齿轮齿面形貌测量光路及方法在审
| 申请号： | 202011116607.8 | 申请日： | 2020-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN112304240A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 杨鹏程;王兆辉;肖渊;朱新栋;方素平 | 申请（专利权）人： | 西安工程大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 宁文涛 |
| 地址： | 710048 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于激光干涉法的斜齿轮齿面形貌测量光路，通过多个反光镜、半反半透镜、扩束镜、光楔、分光棱镜、成像透镜、CCD相机、He‑Ne激光器、波片和压电陶瓷组成；本发明还公开了测量方法，首先调整光路；然后使斜齿轮绕X轴旋转，在仿真程序里面进行齿轮齿面光路追迹计算，实现此齿轮的全域测量，能够提高激光在斜齿轮齿面上的照射面积甚至实现整个齿面上的全域测量，解决了现有技术中测量光线被遮挡，测量光线无法到达CCD成像表面而导致的齿根面域形状信息缺失的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 激光 干涉 齿轮 形貌 测量 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安工程大学，未经西安工程大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011116607.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
