[发明专利]电子产品寿命评估和测试方法、设备及可读存储介质有效

专利信息
申请号: 202011116776.1 申请日: 2020-10-19
公开(公告)号: CN112505443B 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 区志杨 申请(专利权)人: 佛山市华全电气照明有限公司;广东中照光电科技有限公司;佛山市华全科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/64
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 胡枫;曹万菊
地址: 528200 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种电子产品寿命评估和测试方法,包括:当电解电容上电工作超过第一预设时间后,获取电解电容的状态测量值,状态测量值包括外壳温度测量值或交流纹波电流测量值;当电解电容的总工作时间处于预设时段内,且上电工作超过第二预设时间后,定时更新电解电容的状态标准值,状态标准值包括外壳温度标准值或交流纹波电流标准值;当电解电容的总工作时间超过预设时段后,定时将电解电容的状态测量值与状态标准值进行比较,生成状态百分比值,并通过LED指示灯对外发送状态百分比值。本发明还公开了一种计算机设备及计算机可读存储介质。采用本发明,可有效监测电解电容的长期状态变化(即状态百分比值变化),便于推测出电子产品的寿命情况。
搜索关键词: 电子产品 寿命 评估 测试 方法 设备 可读 存储 介质
【主权项】:
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