[发明专利]横向扩散金属氧化物半导体(LDMOS)晶体管在审
申请号: | 202011126263.9 | 申请日: | 2020-10-20 |
公开(公告)号: | CN112768525A | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | C·C·马 | 申请(专利权)人: | 半导体元件工业有限责任公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/40;H01L29/423;H01L21/336 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 秦晨 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明题为“横向扩散金属氧化物半导体晶体管”。在一般方面,横向扩散金属氧化物半导体(LDMOS)晶体管可包括:第一导电类型的衬底;设置在该衬底中的第二导电类型的埋入式阱区;设置在该埋入式阱区上的该第一导电类型的主体区、设置在该主体区中的该第二导电类型的漂移区、设置在该漂移区中的该第二导电类型的漏极注入物;设置在该主体区中的该第二导电类型的源极注入物;以及设置在该漂移区上的栅极结构。该栅极结构可包括:包括RESURF介电层的场板;栅极介电层;和栅极电极,该栅极电极设置在该场板和该栅极介电层上。LDMOS晶体管还可包括漏极触点,该漏极触点延伸穿过该场板并限定与该漏极注入物的欧姆触点。 | ||
搜索关键词: | 横向 扩散 金属 氧化物 半导体 ldmos 晶体管 | ||
【主权项】:
暂无信息
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