[发明专利]横向扩散金属氧化物半导体(LDMOS)晶体管在审

专利信息
申请号: 202011126263.9 申请日: 2020-10-20
公开(公告)号: CN112768525A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: C·C·马 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/40;H01L29/423;H01L21/336
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 秦晨
地址: 美国亚*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明题为“横向扩散金属氧化物半导体晶体管”。在一般方面,横向扩散金属氧化物半导体(LDMOS)晶体管可包括:第一导电类型的衬底;设置在该衬底中的第二导电类型的埋入式阱区;设置在该埋入式阱区上的该第一导电类型的主体区、设置在该主体区中的该第二导电类型的漂移区、设置在该漂移区中的该第二导电类型的漏极注入物;设置在该主体区中的该第二导电类型的源极注入物;以及设置在该漂移区上的栅极结构。该栅极结构可包括:包括RESURF介电层的场板;栅极介电层;和栅极电极,该栅极电极设置在该场板和该栅极介电层上。LDMOS晶体管还可包括漏极触点,该漏极触点延伸穿过该场板并限定与该漏极注入物的欧姆触点。
搜索关键词: 横向 扩散 金属 氧化物 半导体 ldmos 晶体管
【主权项】:
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