[发明专利]用于ZQ校准的设备及方法在审
| 申请号： | 202011136628.6 | 申请日： | 2020-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN112908398A | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 何源;佐藤康夫 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02;G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于ZQ校准的设备及方法。在实例半导体装置中，所述半导体装置的电压/温度条件及ZQ校准的多个例子的相关联校准代码经预存储于寄存器阵列中。当经预存储电压/温度条件再次出现时，不执行ZQ校准。代替地，从所述寄存器阵列检索所述相关联经预存储校准代码及将其提供到IO电路。当所述半导体装置的电压/温度条件不匹配所述寄存器阵列中的任何经预存储电压/温度条件时，执行ZQ校准。当所述ZQ校准被执行时，根据更新策略选择所述寄存器阵列中的寄存器且通过由所述ZQ校准最新提供的所述校准代码连同所述ZQ校准被执行时的所述电压/温度条件一起更新所述寄存器。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 zq 校准 设备 方法 | ||
【主权项】：
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