[发明专利]半导体功率及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202011137114.2 申请日: 2020-10-22
公开(公告)号: CN112271210A 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: 明笑平;于博伟;张海宇;王鹏;高宏伟;李强 申请(专利权)人: 吉林华微电子股份有限公司
主分类号: H01L29/40 分类号: H01L29/40;H01L29/06;H01L29/808;H01L21/337
代理公司: 成都极刻智慧知识产权代理事务所(普通合伙) 51310 代理人: 张红平
地址: 132000 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 本申请实施例提供的半导体功率器件及其制作方法,涉及半导体器件制作领域。通过多个相互间隔的扩散窗口对衬底进行一次性杂质注入,在衬底形成掺杂浓度渐变的VLD终端,并在VLD终端上制作包括多晶硅图形和金属场板的复合场板。采用VLD终端相比分压环终端,可以缩短场板所在区域的面积,增加源区的面积,使半导体功率器件的功率容量更大(耐高压),热阻更低,另外采用多晶硅图形和金属场板的复合场板可以提高电压稳定性,提高半导体功率器件的可靠性。
搜索关键词: 半导体 功率 及其 制作方法
【主权项】:
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