[发明专利]半导体工艺设备及其工艺腔室有效

专利信息
申请号: 202011144983.8 申请日: 2020-10-23
公开(公告)号: CN112359335B 公开(公告)日: 2023-01-17
发明(设计)人: 王世如;杨玉杰 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/54;H01L21/67
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 彭瑞欣;王婷
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请实施例提供了一种半导体工艺设备及其工艺腔室。该工艺腔室包括:腔室本体、基座及导磁装置;基座位于腔室本体内,基座用于承载晶片;导磁装置包括磁体结构及软磁材质的导磁结构,磁体结构环绕设置于基座的两侧,用于在基座附近提供磁场;导磁结构设置于基座内,并且与基座的上表面具有一预设距离,用于引导磁场强度均匀分布以及磁场方向的取向一致。本申请实施例实现了诱导磁场在晶片附近的磁场强度分布更加均匀,以及使得磁场方向的取向一致,从而使得晶片各个位置上薄膜难易化轴保持一致,可以显著提高薄膜的磁各向异性。
搜索关键词: 半导体 工艺设备 及其 工艺
【主权项】:
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