[发明专利]一种功率半导体器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202011152112.0 申请日: 2020-10-26
公开(公告)号: CN112018189B 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 李振道;孙明光;朱伟东 申请(专利权)人: 江苏应能微电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L21/336
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 曹祖良;陈丽丽
地址: 213000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及集成电路技术领域,具体公开了一种功率半导体器件,其中,包括:基底,所述基底上形成井深掺杂区,所述井深掺杂区内形成源极掺杂区,所述基底上添加金属层,所述金属层旁形成介电层,所述介电层包覆多晶硅层结构,所述介电层下形成氧化层,所述氧化层与所述基底以及所述源极掺杂区接触,所述金属层与所述井深掺杂区以及所述源极掺杂区接触,所述多晶硅层结构包括多个直线型结构的多晶硅元件,每个多晶硅元件沿长度方向能够被划分为多个多晶硅组件,每个多晶硅组件沿长度方向的至少一边设置有内嵌结构和/或凸起结构。本发明还公开了一种功率半导体器件的制作方法。本发明提供的功率半导体器件能够有效降低导通电阻。
搜索关键词: 一种 功率 半导体器件 及其 制作方法
【主权项】:
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