[发明专利]一种面向模拟IC有源器件的对称约束检测方法及系统有效
| 申请号： | 202011160909.5 | 申请日： | 2020-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN112287633B | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 李琳;刘浩杰;郭东辉 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 厦门福贝知识产权代理事务所(普通合伙) 35235 | 代理人： | 陈远洋 |
| 地址： | 361000 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明给出了一种面向模拟IC有源器件的对称约束检测方法及系统，包括根据模拟IC的网表，对两个MOS器件之间的连接权重使用变量表示并对变量进行赋值，根据网表中两个MOS器件之间的连接状态使用所述变量进行编码，得到器件互连矢量，根据预设的初层基块互连矢量编码查找表识别出模拟IC初层基块的对称约束关系；根据得到的初层基块检测得到两两相邻的初层基块，求出两个相邻的初层基块的互连矢量，并根据预设的高层基块互连矢量编码查找表检测出模拟IC中高层基块中具有对称约束的器件组。本发明能在模拟IC网表层级中有效的检测出模拟IC中有源器件的对称约束，对于模拟IC版图设计提供了更加准确的对称约束指导。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 模拟 ic 有源 器件 对称 约束 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门大学，未经厦门大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011160909.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种三通弹簧阀阀芯开度数值模拟研究方法
- 下一篇：一种可快速拆装窗框结构
