[发明专利]基于正方体随机模型的等效均匀化双重非均匀性计算方法在审

专利信息
申请号: 202011164788.1 申请日: 2020-10-27
公开(公告)号: CN114491901A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 彭星杰;蔡云;赵文博;娄磊;刘琨;吴屈;于颖锐;李庆 申请(专利权)人: 中国核动力研究设计院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F111/10
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 孙成林
地址: 610213 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于正方体随机模型的等效均匀化双重非均匀性计算方法,它将中子穿过的随机介质区简化为包含单个颗粒的正方体,其中颗粒在正方体内随机均匀分布。正方体边长根据颗粒半径R以及颗粒填充率α确定。通过保证均匀化前中子在随机介质区各子区发生的首次碰撞概率与均匀化后的相应概率相等,开展等效均匀化后随机介质区总截面与各子区空间自屏因子的计算,由空间自屏因子修正各子区截面,进而实现双重非均匀系统中子学计算。
搜索关键词: 基于 正方体 随机 模型 等效 均匀 双重 计算方法
【主权项】:
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