[发明专利]用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法在审

专利信息
申请号: 202011165467.3 申请日: 2020-10-27
公开(公告)号: CN112414298A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 张春熹;王峥;杨艳强;王心 申请(专利权)人: 衡阳市智谷科技发展有限公司
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01J4/00
代理公司: 深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司 44504 代理人: 罗炳锋
地址: 421000 湖南省衡阳市雁峰区岳*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法,涉及数字全息显微术技术领域。该用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法包括以下步骤:启动待测光源并记录光束波长记为δ基准、记录光束波长记为δ1、记录光束波长记为δ2、求得光源透射式的全偏振态测量γ,其中该用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法能够通过对数字全息显微术的方式对光波的全偏振态测量进行多方位的测量,方便人们对不同光波在不同场合下的全偏振态的数值进行较为准确的测量,并且光波的全偏振态测量的误差更低,有效的解决了全偏振态测量效率低的问题。
搜索关键词: 用于 偏振 测量 透射 数字 全息 显微 试验 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于衡阳市智谷科技发展有限公司,未经衡阳市智谷科技发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011165467.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top