[发明专利]一种硅集成具有高储能密度的薄膜电容器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202011168094.5 申请日: 2020-10-27
公开(公告)号: CN112670086A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 马春蕊;刘明;范江奇 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: H01G4/33 分类号: H01G4/33;H01G4/08;H01G4/12;C23C14/35;C23C14/02;C23C14/08;C23C14/54;C23C14/58
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 姚咏华
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及储能薄膜材料领域,具体涉及一种硅集成具有高储能密度的薄膜电容器及其制备方法,包括硅基底、设置于所述硅基底表面的过渡层、设置于所述过渡层表面的缓冲层和设置于所述缓冲层表面的0.88BaTiO3‑0.12Bi(Mg0.5Ti0.5)O3薄膜,所述过渡层为钛层,所述缓冲层为Pt层。本发明通过合理的结构设计,使得该薄膜电容器能够采用硅基基底,并且具有较高的储能密度。本发明的硅集成高储能密度薄膜电容器在室温下具有优异的储能特性,而且‑100℃~150℃的宽温区内具有优秀的热稳定性。
搜索关键词: 一种 集成 具有 高储能 密度 薄膜 电容器 及其 制备 方法
【主权项】:
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