[发明专利]一种基于涡旋光的转速测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 202011171177.X 申请日: 2020-10-28
公开(公告)号: CN112362892B 公开(公告)日: 2023-06-20
发明(设计)人: 马喆;杨静琦;周洁;姜来 申请(专利权)人: 中国航天科工集团第二研究院
主分类号: G01P3/36 分类号: G01P3/36
代理公司: 中国航天科工集团公司专利中心 11024 代理人: 张国虹
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开的基于涡旋光的转速测量系统及方法,涉及探测技术、光电技术领域,以解决传统光学转动速度测量方法的测量难度大、适用范围有限的问题。其中:检测光生成装置,生成探测光和本振光,将探测光调制为含有轨道角动量叠加态的涡旋光,将涡旋光照射至发射接收装置;发射接收装置,对涡旋光进行扩束准直,并照射至待测物体,接收待测物体的反射光,将反射光照射至检测光生成装置;检测光生成装置,对反射光和本振光进行合束,将合束光照射至探测器;探测器,将合束光的光信号转换为电信号;信号处理器,根据提取的电信号中的频移信息,并计算转速。上述测量系统及方法,对系统要求低,还能够有效用于对小转速的测量,具有很高的实用性。
搜索关键词: 一种 基于 涡旋 转速 测量 系统 方法
【主权项】:
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