[发明专利]一种探测器像素内响应变化测量方法及系统在审
| 申请号： | 202011181240.8 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN112504631A | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 袁利;张承钰;王立;郑然;武延鹏;王苗苗 | 申请（专利权）人： | 北京控制工程研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 马全亮 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种探测器像素内响应变化图像测量方法及系统，通过搭建测量系统，利用显微镜物镜将准直光束聚焦到图像探测器上，形成一个直径极小的艾里光斑，将光斑定位到待测像素的中心并调整位移平台以将探测器设置在显微镜物镜的焦平面上，通过在固定像素区域上进行扫描，并将每一帧的数据进行处理后，将测量的数据与图像的数学模型相匹配，得到待测像素内响应变化的模型输出。本发明可以重构探测器的输出模型，并且与实验测量提取到的像素内响应变化图像拟合良好，提取到的像素内响应变化图像包含着图像探测器通过点光源光学系统成像后得到像斑的整体形状信息，可以用作特定的标定滤波器，利用像素内响应变化为图像探测器进行定标，研究图像探测器的科学成像能力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探测器 像素 响应 变化 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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