[发明专利]一种基于X射线分层技术的印刷电路板检测方法在审
申请号: | 202011181549.7 | 申请日: | 2020-10-29 |
公开(公告)号: | CN112200798A | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 王华龙;朱涛;杨海东;宋秋云 | 申请(专利权)人: | 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院;佛山市广工大数控装备技术发展有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T11/00;G06K9/62 |
代理公司: | 广州科沃园专利代理有限公司 44416 | 代理人: | 马盼 |
地址: | 528200 广东省佛山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种基于X射线分层技术的印刷电路板检测方法,包括以下步骤:S1、确定研究对象;S2、判断研究对象的运动类型为平移类型还是旋转类型;S3、若研究对象的运动类型为平移类型,则通过指定导线方向来改善图片质量;S4、若研究对象的运动类型为旋转类型,则通过增加合成图像的数量来改善图片质量;S5、将相关系数CC作为图像相似性的指标,本发明提供的一种基于X射线分层技术的印刷电路板检测方法的有益效果在于:本研究的目的是优化用于印刷电路板检测的X射线层析成像技术,所研究的系统参数包括运动类型、合成图像数和x射线源的投射角度,相关系数作为检验指标。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 射线 分层 技术 印刷 电路板 检测 方法 | ||
【主权项】:
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