[发明专利]半导体封装及其制造方法和印刷电路板组件在审

专利信息
申请号: 202011182569.6 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112786580A 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 林宥纬;范秩逢 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;H01L23/495;H01L21/48
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 黎坚怡
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体封装,包括:晶粒附接焊盘;引线端子,布置在该晶粒附接焊盘周围;半导体晶粒,安装在该晶粒附接焊盘上;模塑料,密封该引线端子、该半导体晶粒和该晶粒附接焊盘;以及阶梯切口,沿着半导体封装的底表面的周边锯切进该模塑料,其中该阶梯切口穿透该引线端子的整个厚度,从而该引线端子中的至少一个具有在该阶梯切口处暴露的外端。本发明的上述结构使得模塑料相对于该阶梯切口突出,从而在将半导体封装安装在电路板等上时,模塑料可以保护阶梯切口,使得阶梯切口不容易被探针等接触到,从而降低黑客进行物理探测或硬件攻击的可能性。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制造 方法 印刷 电路板 组件
【主权项】:
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