[发明专利]一种可分析O型圈截面直径对高压密封性能影响的内倾斜角测试装置有效

专利信息
申请号: 202011183506.2 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112304530B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 郭飞;黄毅杰;王文虎;项冲;张兆想;程甘霖;谭磊;贾晓红;王玉明 申请(专利权)人: 清华大学;广州国机密封科技有限公司
主分类号: G01M3/26 分类号: G01M3/26;G01M13/005
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 段俊涛
地址: 100084 北京市海淀区1*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种可分析O型圈截面直径对高压密封性能影响的内倾斜角测试装置,包括筒体,活动盖的中下部伸入筒体与筒体连接,活动盖的下部为锥形结构,测试用O型圈设置于该锥形结构外侧壁的环形密封槽中,活动盖通过中部外侧壁上凸起的螺旋块与筒体内侧壁的螺旋槽配合实现旋转,筒体底部连通进气管路和出气管路,活动盖的中部为环形凸起,螺旋块设置在环形凸起外的底侧位置,螺旋面带有内倾斜角,相应地,筒体内部均布有螺旋槽,且螺旋槽特征角与螺旋块相关特征角匹配。本发明通过活动盖底部密封槽和筒体锥面配合间隙的改变,实现测试用O型圈截面直径的控制,通过压力检测表以及阀门配合实现测试装置的气体回收、超压溢流和压力波动下卸荷。
搜索关键词: 一种 分析 截面 直径 高压 密封 性能 影响 内倾 斜角 测试 装置
【主权项】:
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