[发明专利]支持DRAM x16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备有效
| 申请号： | 202011193104.0 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112270948B | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 赖俊生;曾理 | 申请（专利权）人： | 皇虎测试科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C11/401;G06F11/22 |
| 代理公司： | 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及内存测试技术领域，公开了一种支持DRAM x16颗粒的测试方法及装置、DRAM存储器的测试设备，所述方法包括：关闭Bank XOR Enable，计算所述DRAM x16颗粒的内存容量，同时对DRAM x16颗粒建立地址映射；设置页属性，将Cache属性关闭，建立内存页表；访问所述DRAM x16颗粒Bank Group低位的地址空间，获取所述DRAM x16颗粒的内存错误信息。本发明能够实现对DRAM x16颗粒类型进行检测，并获取DRAM x16颗粒类型的错误信息，进而提高了DRAM存储器的使用性能。 | ||
| 搜索关键词： | 支持 dram x16 颗粒 测试 方法 装置 存储器 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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