[发明专利]三维存储器结构及其制备方法有效
申请号: | 202011203181.X | 申请日: | 2020-11-02 |
公开(公告)号: | CN112563284B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 张坤;孔翠翠;张中;周文犀;吴林春 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11565 | 分类号: | H01L27/11565;H01L27/1157;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 | 代理人: | 高园园 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种三维存储器结构及其制备方法,制备包括:在半导体衬底上形成叠层结构,叠层结构包括核心区域及台阶区域,刻蚀台阶区域以形成N个子台阶区,且各所述子台阶区环绕一台阶中心布置,N个子台阶区形成M级数台阶,N和M均为大于等于3的整数,另外,台阶区域中还形成有桥接区。本发明的三维存储器结构及其制备方法,可以将台阶区域做成至少三个分区的台阶,且台阶可以做成圆形台阶,在每一圈台阶上对应不同的分区,利用台阶的设计在不同的分区做台阶接触孔;通过绕台阶中心环绕布置的子台阶区,有利于应力分散;另外,还可以在台阶刻蚀中有效形成桥结区实现台阶区域与核心区域的电连接。 | ||
搜索关键词: | 三维 存储器 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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