[发明专利]一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片在审
| 申请号： | 202011206971.3 | 申请日： | 2020-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN112198100A | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 邓龙龙;周宗斌;兰芳芳;袁野;王乾坤;化利东;吕峰;陈品品;徐传超 | 申请（专利权）人： | 安徽安光环境科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市高*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片，在保证仪器测量精度及测量设备之间一致性上实现了突破性的创新，采用本发明中的用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片克服了现有射线法颗粒物监测仪器校准周期长、校准膜片制作工艺复杂、在不同地区或不同气候环境下测量值不准的问题；用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片作为监测仪器的一部分，颗粒物监测仪通过测量穿过两张面密度不同的标准膜片的β粒子计数可对设备的um进行校准，从而使仪器测得的颗粒物浓度更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 射线 颗粒 监测 校准 膜片 | ||
【主权项】：
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