[发明专利]红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置和方法在审
| 申请号： | 202011207654.3 | 申请日： | 2020-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN112630679A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 陈佳;王天太;李云鹏;王立保;王斌 | 申请（专利权）人： | 武汉高芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/42 | 分类号： | G01R31/42 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 吴静 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种红外焦平面探测器制冷组件的制冷性能测试装置，包括：直流电源、制冷探测器、数据采集卡、上位机数据处理软件；直流电源，用于分别为制冷探测器和数据采集卡进行供电；制冷探测器，用于接收直流电源的供电，还用于将制冷探测器工作数据发送给数据采集卡；数据采集卡，分用于接收直流电源的供电，采集制冷探测器工作数据，还用于将采集到的制冷探测器工作数据发送给上位机数据处理软件；上位机数据处理软件，与数据采集卡连接，用于对接收的制冷探测器工作数据进行记录、数据处理和保存。本发明能实现计算机自动控制和试验数据采集，支持多台产品进行性能测试，提供多种制冷性能测试参数指标，将测试参数与合格参数比较，对不合格产品进行故障报警，提示测试人员发现故障。 | ||
| 搜索关键词： | 红外 平面 探测器 制冷 组件 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉高芯科技有限公司，未经武汉高芯科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011207654.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：中药配方颗粒下药计量称重方法
- 下一篇：一种拉伸后外观图案会发生变化的织带
