[发明专利]超声波对射测厚仪及其测厚方法在审
| 申请号： | 202011209217.5 | 申请日： | 2020-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN112325814A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 曹玉玺;康邯;熊安强 | 申请（专利权）人： | 成都锐科软控科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B17/02 | 分类号： | G01B17/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610015 四川省成都市中国(四川)自*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种超声波对射测厚仪及其测厚方法，设置两个位于同一水平位置的超声波探头；待测物呈竖直安放在两个超声波探头之间，且待测物垂直于第一探头和第二探头的连线；启动两个超声波探头，分别测得两个探头发射超声波到接收超声波的时间t1和t2；查询超声波在空气中的传播速度C，计算得到待测物的厚度d。本发明具有的优点是本方法测试中，采用两个探头，将物体竖直放置在两个探头之间，即可以测量物体的厚度，过程中，不需要耦合剂，节省了测量成本；只需要得到在超声波空气中传播的速度，不需要知晓物体的材料成分，以及对不均匀的物体也可以进行测量厚度，物体内部有缺陷时，如裂纹、分层、空腔等，对本发明的测量没有影响。 | ||
| 搜索关键词： | 超声波 对射 测厚仪 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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