[发明专利]一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路在审

专利信息
申请号: 202011211265.8 申请日: 2020-11-03
公开(公告)号: CN112379248A 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 黄浩;李全任 申请(专利权)人: 南京宏泰半导体科技有限公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185;G01R31/3183
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 刘珊珊
地址: 210000 江苏省南京市浦口区江浦街道浦*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路,包括:FPGA芯片、高速低精度采样回路、低速高精度采样回路及触发控制模块;其中,FPGA芯片根据上位机指令启动高速低精度采样回路或低速高精度采样回路对采样点输出的电压信号进行AD采样;触发控制模块检测采样点输出的电压信号,当检测到采样点的输出信号发生反转时,触发FPGA芯片选通高速低精度采样回路对采样点输出的电压信号进行AD采样。本发明能够基于不同采样需求切换具有不同采样速率的采样回路对采样点进行采样,同时设置触发控制模块对采样点进行电压翻转实时检测,当检测到电压翻转时,快速触发FPGA切换至高速低精度采样回路,从而保证能快速响应翻转点的测试。
搜索关键词: 一种 基于 fpga 速率 可调 快速 扫描 测试 硬件 电路
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京宏泰半导体科技有限公司,未经南京宏泰半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011211265.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top