[发明专利]放大器芯片预匹配测试装置及测试系统在审
| 申请号： | 202011226041.4 | 申请日： | 2020-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN112130060A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 周杨 | 申请（专利权）人： | 华美博科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京绘聚高科知识产权代理事务所(普通合伙) 11832 | 代理人： | 罗硕 |
| 地址： | 100097 北京市海淀区蓝靛厂东路2号院2*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种放大器芯片预匹配测试装置及测试系统，在测试电路板上设置有测试电路，测试电路包括宽带隔直电容、输入阻抗变换线及输出阻抗变换线，宽带隔直电容与输入阻抗变换线串联，放大器芯片的射频输入端和射频输出端分别搭接在输入阻抗变换线及输出阻抗变换线上，输入阻抗变换线的阻抗沿第一同轴微带转换器至放大器芯片的方向逐渐减小，以将输入阻抗降低并加载至放大器芯片上，输出阻抗变换线的阻抗沿放大器芯片至第二同轴微带转换器的方向逐渐增大，以将输出阻抗提高后输出。本发明采用输入阻抗变换线及输出阻抗变换线进行阻抗变换，使得测试装置的阻抗和放大器芯片的阻抗匹配，提高了测试范围和测试灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 放大器 芯片 匹配 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
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