[发明专利]一种基于调制光热辐射技术的复合绝缘子老化程度改进检测方法有效
| 申请号： | 202011227738.3 | 申请日： | 2020-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN112432969B | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 李斌成;赵斌兴;江海涛 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20;G01J5/20;G01J5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于调制光热辐射的复合绝缘子老化程度改进检测方法，所述方法采用调制光热辐射技术分别测量复合绝缘子表面老化层区域及去除表面老化层后暴露的内部未老化层的热扩散率，利用测量的表面老化层热扩散率与内部未老化层热扩散率的比值判断复合绝缘子的老化程度。本方法克服了不同规格、型号复合绝缘子的初始热扩散率存在差别且缺乏准确数据对采用热扩散特性评估复合绝缘子老化程度检测方法的影响，提高了采用热扩散特性评估复合绝缘子老化程度的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 调制 光热 辐射 技术 复合 绝缘子 老化 程度 改进 检测 方法 | ||
【主权项】：
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