[发明专利]一种全自动半导体产品测试装置在审
| 申请号： | 202011228811.9 | 申请日： | 2020-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN112198159A | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 陈能强 | 申请（专利权）人： | 无锡昌鼎电子有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 杨立秋 |
| 地址： | 214000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种全自动半导体产品测试装置，属于半导体测试技术领域。所述全自动半导体产品测试装置包括测试器本体和测试站，所述测试器本体和所述测试站之间通过导线连接；所述测试器本体正面固定连接有安装平台；所述安装平台远离所述测试器本体的一端通过AOI固定块固定连接有AOI监视器；所述安装平台靠近所述测试器本体的一端固定安装有显示屏；所述AOI监视器和所述显示屏均与所述测试器本体电连接。该全自动半导体产品测试装置通过AOI监视器监测显示屏的波形图，实现自动筛选，替代传统人工测试，提高测试效率的同时，提高测试的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 全自动 半导体 产品 测试 装置 | ||
【主权项】：
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