[发明专利]一种扫描调制式激光颗粒度测量装置在审
| 申请号： | 202011235629.6 | 申请日： | 2020-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN112326517A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 李华丰;薛景锋 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人： | 王民盛 |
| 地址： | 100095*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种扫描调制式激光颗粒度测量装置，属于材料分析测量领域。本发明主要由光强调制准直激光器、主框架、透明样品池、小孔光电探测器、扫描电机以及配套的驱动、采集、信号处理系统组成。利用机械扫描方案取代传统的分布式多探测器布局方案，实现对粉末颗粒衍射散射光分布规律的探测，具有结构简单、成本低、探测器数量少、角度分辨力高、信号处理过程简单的优点。利用交流调制的激光光源取代传统的光强稳定光源，实现交流光电接收、窄带交流放大，有效抑制阳光、照明光等环境光对测量系统的干扰，从而取消体积庞大的暗室和避光结构，不仅能够缩小测量系统体积，提高便携性，也利于实现工业现场应用和生产中的在线测量应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 扫描 调制 激光 颗粒 测量 装置 | ||
【主权项】：
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